在半导体核心工艺中，温度均匀性直接决定晶圆翘曲度、薄膜沉积质量与最终良率。在线式红外测温仪以非接触、毫秒级响应…
填写下面的表格以获取我们的选型以及报价。
红外测温仪 红外扫描热像仪 红外热像仪
黑体炉 传递源 红外探测器
热金属探测器 红外开关
Tel:13883162544Email:c.jiang@dias-infrared.com
